Представление документа в формате RUSMARC

ПолеНазваниеЗначение
  Тип записи a
  Библиографический уровень m
001 Контрольный номер UONB/MAIN/8976396687b2436c953594dafa1a8cea
005 Дата корректировки 20250616110850.1
010 Индекс ISBN __
a ISBN 5-7455-0132-4
d Цена 40 к.
9 Тираж 1500 экз.
100 Данные общей обработки __
a Данные общей обработки 20221213d1989 u y0rusy0189 ca
101 Язык документа 0_
a Язык текста rus
102 Страна публикации __
a Страна публикации RU
105 Кодированные данные (монография) __
a Кодированные данные (монография) a j 001yy
200 Заглавие и сведения об ответственности 1_
a Заглавие Методы измерения основных параметров полупроводников
e Сведения, относящиеся к заглавию учеб. пособие для вузов по спец. "Физика и технология материалов и компонентов электрон. техники"
f Первые сведения об ответственности С.И. Рембеза
210 Выходные данные 1_
a Место издания Воронеж
c Издательство Изд-во Воронеж. ун-та
d Дата издания 1989
215 Физическое описание __
a Объем 221, [1] с.
c Иллюстрации/тип воспроизводства ил.
d Формат 21 см
225 Серия 1_
a Серия Микроэлектроника
320 Библиография __
a Библиография Библиогр.: с. 221-222
606 Тематические рубрики 0_
a Основная рубрика Полупроводники
x Основная подрубрика Измерение
x Основная подрубрика Измерение
j Формальный подзаголовок Учебники и пособия
610 Ключевые слова 0_
a Ключевые слова полупроводники; измерение параметров; параметры полупроводников
675 Индекс УДК __
a Индекс УДК 537.92(075)
686 Индексы других классификаций __
a Классификационный индекс 22.379
2 Код системы rubbk
700 Автор _1
a Фамилия Рембеза
b Имя (инициалы) С.И.
g Полное личное имя Станислав Иванович
801 Источник записи _0
a Страна RU
b Организация Ульяновская ОНБ
c Дата составления 20221213
g Правила каталогизации RCR
801 Источник записи _1
a Страна RU
b Организация Ульяновская ОНБ
c Дата составления 20221213
g Правила каталогизации RCR
901 Тип документа __
t Тип документа m
909 Создатель записи __
a Создатель записи Серова
b Дата создания записи 20221213